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期刊


ISSN0913-5685
刊名電子情報通信学会技術研究報告
参考译名电子信息通信学会技术研究报告：硬件安全
收藏年代2003～2024



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题名作者出版年年卷期
半導体チップにおけるサプライチェーンセキュリティの脅威と対策設計技術の取組事例永田真; 門田和樹; 林優一; 本間尚文20242024, vol.124, no.6
サプライチェーンリスクとハードウェアトロージャン対策川村信一; 松本勉; 吉田博隆; 植村泰佳; 永田真; 池田誠; 高野健20242024, vol.124, no.6
裏面赤外観察による非破壊ハードウェアトロイ検査坂本純一; 堀洋平; 川村信一; 林優一; 永田真20242024, vol.124, no.6
入出力回路からのバックスキャッタリングを用いた経年劣化検出手法に関する基礎検討鍛治秀伍; 衣川昌宏; 藤本大介; 林優一20242024, vol.124, no.6
FPGAにおけるリングオシレータ利用レーザー検知センサのAES回路への適用林俊吾; 坂本純一; 松本勉20242024, vol.124, no.6
サイドチャネル情報を用いた誤りバイト数推定に基づく故障利用攻撃の効率化に関する基礎検討大貫和基; 西山輝; 藤本大介; 林優一20242024, vol.124, no.6
記念講演ハードウェアセキュリティとトラスト: デジタルトラストとハードウェアセキュリティの素敵な関係松本泰20242024, vol.124, no.6
グループ共有鍵システムにおける軽量部分鍵更新のためのマルチモーダル物理攻撃センサ池本龍生; 藤井聡一朗; 成瀬厚太郎; 塩見準; 御堂義博; 山下憂記; 田口美里; 三木拓司; 永田真; 駒野雄一; 岩本貢; 﨑山一男; 三浦典之20242024, vol.124, no.229
電磁的故障注入攻撃によるチップ内部電圧応答とデジタル回路故障の評価長谷川陸宇; 門田和樹; 弘原海拓也; 三木拓司; 永田真20242024, vol.124, no.229
ICチップ裏面の高電圧パルス印加による故障注入攻撃林佑亮; 長谷川陸宇; 弘原海拓也; 門田和樹; 三木拓司; 永田真20242024, vol.124, no.229
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