先进制造业知识服务平台
国家科技图书文献中心机械分馆 工信部产业技术基础公共服务平台 国家中小企业公共服务示范平台
主页
外文期刊
OA 期刊
电子期刊
外文会议
中文期刊
标准
网络数据库
专业机构
企业门户
起重机械
生产工程
高级检索
关于我们
版权声明
使用帮助
期刊
ISSN
2043-0647
刊名
Microscopy and Analysis
参考译名
显微镜学与分析——亚太版
收藏年代
2008~2016
全部
2008
2009
2010
2011
2012
2013
2014
2015
2016
2011
2011, vol.2011, no.SUPPL.
题名
作者
出版年
年卷期
Electron Microscopy Sciences
Ray J. Boucher
2011
2011, vol.2011, no.SUPPL.
Olympus Soft Imaging Solutions
Ray J. Boucher
2011
2011, vol.2011, no.SUPPL.
2010 under the Microscope: A Review of New Instruments and Technology
Julian P. Heath
2011
2011, vol.2011, no.SUPPL.
Atomic Resolution Secondary Electron Imaging in Aberration Corrected STEM
Hiromi Inada; Mitsuru Konno; Keiji Tamura; Yuya Suzuki; Kuniyasu Nakamura; Yimei Zhu
2011
2011
Development of a High Throughput Electron Microscope for Nanoscale Analysis
Mitsuhide Matsushita; Shuji Kawai; Takeshi Iwama; Katsuhiro Tanaka; Toshiko Kuba; Noriaki Endo; Thomas C. Isabell
2011
2011
Bonding and TSV in 3D IC Integration: Physical Analysis with a Plasma FIB
Maaike M. V. Taklo; Armin Klumpp; Peter Ramm; Laurens Kwakman; German Franz
2011
2011
Variable Pressure Scanning Electron Microscopy of Vicia faba Stigmatic Papillae
Wen Chen; Fred Stoddard; Timothy C. Baldwin
2011
2011
Widefield Fluorescence Microscopy of Centrosome Separation in DT40 Cells
Helfrid Hochegger
2011
2011
Review of Plasma Cleaning Technology for Decontamination in FIB, SEM and TEM
Tom Levesque
2011
2011
Nanoparticle Tracking Analysis of Cell Exosome and Nanovesicle Secretion
Simon J. Fowls; Chin Y. Soo; Ying Zheng; Elaine C. Campbell; Andrew Riches
2011
2011
1
2
3
国家科技图书文献中心
全球文献资源网
京ICP备05055788号-26
机械工业信息研究院 2018-2024