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期刊
ISSN
2043-0647
刊名
Microscopy and Analysis
参考译名
显微镜学与分析——亚太版
收藏年代
2008~2016
全部
2008
2009
2010
2011
2012
2013
2014
2015
2016
2008, no.61
2008, no.63
2008, no.64
2008, no.65
2008, no.66
题名
作者
出版年
年卷期
Advanced Monochromatic STEM for Nano-Electronics Industry Applications
C. H. Tung; M. Bosman; C. K. Cheng
2008
2008, no.64
Microscopy of Semiconductor Nano- and Microwires with Waveguiding Behaviour
Javier Piqueras; Pedro Hidalgo; Emilio Nogales; Bianchi Mendez; Jose Angel Garcia
2008
2008, no.64
Fractography of Brittle Materials: Analysis of Fractures in Ceramics and Glasses
George D. Quinn
2008
2008, no.64
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