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期刊


ISSN2043-0639
刊名Microscopy and Analysis
参考译名显微镜学与分析——美洲版
收藏年代2008～2016



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2008, no.93

题名作者出版年年卷期
Use of Scanning Tunnelling Microscopy for Atomic Manipulation on SemiconductorsArie van Houselt; Harold J. W. Zandvliet20082008, no.89 suppl
Scanning Ion Conductance Microscopy: Zero Force Imaging of Living CellsShelley J. Wilkins; Martin F. Finlan; Corinne S. G. Finlan20082008, no.89 suppl



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