先进制造业知识服务平台
国家科技图书文献中心机械分馆　　工信部产业技术基础公共服务平台　　国家中小企业公共服务示范平台

期刊


ISSN2043-0655
刊名Microscopy and Analysis
参考译名显微镜学与分析——欧洲版
收藏年代2008～2012



全部

2008 2009 2010 2011 2012

2008, no.111 2008, no.112 2008, no.113 2008, no.114 2008, no.115 2008, no.116

题名作者出版年年卷期
Advanced Monochromatic STEM for Nano-Electronics Industry ApplicationsC. H. Tung; M. Bosman; C. K. Cheng20082008, no.114
Microscopy of Semiconductor Nano- and Microwires with Waveguiding BehaviourJavier Piqueras; Pedro Hidalgo; Emilio Nogales; Blanchi Mendez; Jose Angel Garcia20082008, no.114
Scanning Transmission Electron Microscopy: A Tool for Biology and Materials ScienceVlad Stolojan20082008, no.114
Fractography of Brittle Materials: Analysis of Fractures in Ceramics and GlassesGeorge D. Quinn20082008, no.114



国家科技图书文献中心  全球文献资源网  京ICP备05055788号-26  机械工业信息研究院 2018-2024